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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15025. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15025
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15026. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15026
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15027. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15027
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15028. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15028
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15029. Ni, A955, RTNS-IIFin, RT, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15029
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A955. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15030. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15030
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15031. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15031
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15032. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15032
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15033. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15033
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15034. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15034
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15035. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15035
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15036. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15036
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15037. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15037
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15038. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15038
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15039. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15039
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15040. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15040
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15041. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15041
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15042. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15042
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15043. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15043
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15044. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15044
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15045. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15045
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15046. Ni, A968, RTNS-IIFin, RT, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15046
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A968. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15047. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15047
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dummy.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15048. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15048
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15049. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15049
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15050. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15050
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15051. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15051
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15052. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15052
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15053. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15053
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15054. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15054
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15055. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15055
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15056. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15056
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15057. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15057
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)ボツ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15058. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15058
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15059. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15059
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15060. Ni-2Cu, R033, RTNS-II, 350℃, WW, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15060
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R033. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15061., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15061
範囲と内容

(条件・倍率等).

(備考)ボツ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15062. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15062
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15063. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15063
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidなし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15064. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15064
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15065. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15065
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15066. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15066
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15067. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15067
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15068. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15068
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15069. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15069
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15070. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15070
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15071. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15071
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15072. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15072
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15073. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15073
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)転位そば.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15074. Cu-2Sn, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15074
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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