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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15175. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15175
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15176. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15176
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15177. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15177
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15178. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15178
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣 A B?.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15179. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15179
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15180. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15180
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15181. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15181
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15182. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15182
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15183. Cu, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15183
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15184. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15184
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15185. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15185
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15186. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15186
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15187. Cu, RTNS-II, 150℃, S, DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15187
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15188. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15188
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15189. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15189
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15190. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15190
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15191. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15191
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15192. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15192
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15193. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15193
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15194. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15194
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15195. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15195
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15196. BO2, M-1, RT., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15196
範囲と内容

(試料番号)BO2. (照射条件)M-1. (照射温度)RT.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15197. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15197
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15198. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15198
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)歪.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15199. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15199
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15200. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, BF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15200
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15201. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15201
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15202. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15202
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15203. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15203
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15204. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15204
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15205. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15205
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15206. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15206
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15207. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15208. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15209. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15210. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15210
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dislocationあり.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15211. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15211
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)dislocationあり.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15212. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, BF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15212
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15213. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15213
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15214. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15214
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15215. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15215
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15216. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15216
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15217. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15217
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15218. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15218
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15219. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15219
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15220. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15220
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15221. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15221
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15222. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15222
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15223. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, S, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15223
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Cu-2Sn（S　150℃　D3)は厚すぎる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15224. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15224
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)再研磨後.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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