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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15275. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15275
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15276. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, RT, SS., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15276
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15277. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15277
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)薄すぎる。歪んでいる。.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15278. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15278
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15279. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15279
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15280. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15280
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15281. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15281
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15282. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15282
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15283. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15283
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15284. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15284
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15285. Cu, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15285
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15286. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15286
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15287. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15287
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15288. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15288
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15289. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15289
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15290. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15290
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15291. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15291
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15292. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15292
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)うすい。よい試料.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15293. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15293
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15294. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15294
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15295. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15295
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15296. Cu-2Si, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15296
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15297. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15297
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15298. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15298
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15299. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15299
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15300. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15300
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15301. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15301
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15302. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15302
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15303. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15303
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15304. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15304
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15305. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15305
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上から離れている場所。こちらの方が薄い.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15306. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15306
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15307. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15307
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15308. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15308
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15309. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15309
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15310. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15310
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15311. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15311
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15312. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15312
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15313. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15313
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15314. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15314
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15315. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15315
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15316. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15316
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15317. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-15317
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15318. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15318
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15319. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15319
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15320. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15320
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)s 負.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15321. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15321
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15322. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, DF, 200K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15322
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15323. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, RT, SS, ED., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15323
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-15324. Cu, RTNS-II, 350℃, M, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-15324
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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