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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16433. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16433
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16434. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16434
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16435. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16435
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16436. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, ED, 55cm., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16436
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16437. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16437
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16438. Ni, A960, RTNS-II, 150℃, S, DF, 100K., 1988. 8. 1.

 アイテム
資料番号: L-16438
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A960. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: 1988. 8. 1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16439. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16439
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16440. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16440
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16441. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16441
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16442. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16442
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16443. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16443
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16444. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16444
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16445. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16446. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16447. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16448. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16449. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16450. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16451. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16452. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16453. Ni, A958, RTNS-II, 150℃, M, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A958. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16454. Ni, A959, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A959. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)試料研磨不良.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16455. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16455
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16456. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16456
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16457. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16457
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16458. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16458
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16459. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16459
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16460. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16460
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16461. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16461
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16462. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16462
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16463. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16463
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16464. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16464
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16465. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16465
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16466. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16466
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16467. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16467
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16468. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16468
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16469. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16469
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16470. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, ED, 55cm., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16470
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16471. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16471
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　　　始点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16472. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16472
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α側　中点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16473. A-4, EM, 400℃, 9e17n/cm2, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16473
範囲と内容

(試料)A-4. (照射条件)EM. (照射温度)400℃. (照射量)9e17n/cm2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)　　　終点.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16474. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

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資料番号: L-16474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16475. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16476. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16477. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16478. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16479. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16480. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16480
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16481. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16481
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-16482. Ni, A809, RTNS-II, RT(final), SS, DF, 100K., [1988年8月1日.]

 アイテム
資料番号: L-16482
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A809. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(final). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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