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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64927. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64927
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64928. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64928
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64929. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64929
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64930. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64930
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)こうゆう所もある.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64931. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64931
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)map　傾き＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64932. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64932
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)EMケンマ1回　Low　mag　MAP　これは外れていた.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64933. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64933
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)Low　mag　MAP.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64934. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64934
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64935. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64935
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64936. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64936
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)SFTのみ？.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64937. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64937
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64938. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64938
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64939. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64939
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)さらに内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64940. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64940
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64941. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64941
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)さらに内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64942. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64942
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64943. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64943
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64944. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, 53K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64944
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)53K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)エッジのコンタミはもとのエッジ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64945. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64945
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64946. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64946
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)上の視野よりうすい部分だと思う.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64947. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64947
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64948. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64948
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64949. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64949
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ループありパラパラと.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64950. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64950
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ループありパラパラと.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64951. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64951
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64952. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64952
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64953. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64953
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)かなり内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64954. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64954
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64955. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64955
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64956. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64956
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64957. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64957
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64958. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64958
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)EMケンマ2回　map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64959. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64959
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64960. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64960
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64961. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64961
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64962. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64962
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64963. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64963
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64964. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64964
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64965. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64965
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64966. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64966
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64967. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64967
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64968. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64968
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64969. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64969
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64970. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64970
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64971. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64971
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64972. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64972
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64973. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64973
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64974. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64974
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64975. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64975
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)もとのエッジ？.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64976. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64976
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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