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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64977. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64977
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64978. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64978
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64979. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64979
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64980. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64980
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64981. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64981
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64982. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64982
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)EMケンマ2回　map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64983. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64983
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64984. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64984
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64985. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64985
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64986. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64986
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64987. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64987
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64988. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64988
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64989. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64989
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋6↷.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64990. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64990
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)FC＋6↶.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64991. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64991
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64992. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64992
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64993. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64993
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64994. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64994
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64995. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64995
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64996. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64996
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)map　エッジ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64997. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64997
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64998. Cu-2Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64998
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-64999. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-64999
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

(備考)EMケンマ３回　map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65000. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, 53K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65000
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)53K.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65001. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 42K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65001
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65002. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65002
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65003. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65003
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65004. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65004
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65005. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65005
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65006. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65007. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65008. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65008
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65009. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65009
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65010. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65010
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65011. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65011
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65012. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65012
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65013. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65013
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65014. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65014
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65015. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65015
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65016. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, 11K., [1990年9月10日.]

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資料番号: O-65016
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65017. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 21K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65017
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)１視野内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65018. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 11K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65018
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)１視野内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65019. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF, 31K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65019
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)細いのもループ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65020. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65020
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)DFT.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65021. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65021
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)DFT.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65022. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, DF, 100K., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65022
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)DFT.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65023. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, ED., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65023
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)map.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65024. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65024
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65025. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65025
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別の場所　内部.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-65026. Cu-0.05Si, RTNS-II, 200℃, BF., [1990年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-65026
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)エッジ.

日付: [1990年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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