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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37301. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37301
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37302. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37302
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37303. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37303
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)上12　（00）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37304. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37304
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上15赤10（320）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37305. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37305
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37306. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37306
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上2　00.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37307. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37307
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上12赤5（20）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37308. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37308
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37309. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37309
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37310. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37310
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)上11　0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37311. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37311
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)上2　赤1（60）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37312. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37312
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37313. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37313
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37314. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37314
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37315. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37315
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37316. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37316
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37317. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 73K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37317
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37318. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37318
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37319. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37319
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37320. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37320
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37321. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 10K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37321
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37322. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37322
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37323. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 10K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37323
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37324. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37324
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37325. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37325
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37326. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 10K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37326
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37327. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37327
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37328. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37328
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ｇが垂直.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37329. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37329
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37330. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37330
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37331. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37331
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37332. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37332
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)D3. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)観察は120ｋeV　動いている欠陥.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37333. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37333
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37334. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, BF, 37K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37334
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37335. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, BF, 37K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37335
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K.

(備考)外す.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37336. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, BF, 37K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37336
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37337. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, ED., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37337
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37338. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 37K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37338
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37339. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 37K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37339
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37340. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37340
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)はずす.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37341. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

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資料番号: L-37341
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)はずす.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37342. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37342
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.8.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37343. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37343
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.8.

(備考)ややはずして.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37344. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37344
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37345. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37345
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37346. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37346
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37347. Al, G802, RTNS-II, LT, SS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37347
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)LT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37348. Al, B471, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37348
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)B471. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37349. Al, B471, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37349
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)B471. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.9.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37350. Al, B471, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37350
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)B471. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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