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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88179. Au, JMTR, 160℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88179
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (照射温度)160℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88180. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88180
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)GB近く　A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88181. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88181
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88182. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88182
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88183. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88183
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88184. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88184
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88185. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88185
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88186. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88186
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)just.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88187. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88187
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)↷.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88188. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88188
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)↶.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88189. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88189
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88190. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88190
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88191. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88191
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)C.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88192. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88192
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88193. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88193
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88194. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88194
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88195. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88195
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)D.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88196. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88197. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88198. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88199. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88200. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88201. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88202. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88203. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88204. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, 31K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88205. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88206. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88207. Ni, JMTR　uncontrolled, 400℃, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88207
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR　uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88208. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88208
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88209. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88209
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88210. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88210
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88211. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88211
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88212. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88212
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88213. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88213
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88214. Ni-2Si, JMTR　controlled, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88214
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88215. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88215
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88216. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88216
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88217. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88217
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)A.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88218. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88218
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88219. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88219
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K.

(備考)B.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88220. Ni-2Si, JMTR　controlled, BF, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88220
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88221. Ni-2Si, JMTR　controlled, DF., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88221
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88222. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88222
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88223. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88223
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88224. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88224
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88225. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88225
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88226. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88226
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88227. Ni-2Si, JMTR　controlled, ED., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88227
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88228. Ni-2Si, JMTR　controlled, BD, 16K., [1991年2月6日以降.]

 アイテム
資料番号: O-88228
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　controlled. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)16K.

日付: [1991年2月6日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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