メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37401. Al, U089, RTNS-II, 90　Hi, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37401
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)U089. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90　Hi. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37402. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37402
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)D3. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37403. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37403
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37404. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37404
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37405. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37405
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　（2）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37406. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37406
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37407. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37407
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37408. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37408
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37409. Al, T216, RTNS-IIlast, 350℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37409
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T216. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)他の視野　GB近く　上と同じｇ.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37410. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37410
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)D3. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37411. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37411
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37412. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37412
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37413. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37413
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37414. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, 20K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37414
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37415. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37415
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37416. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37416
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37417. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37417
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37418. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37418
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37419. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37419
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37420. Al, T274, RTNS-IIlast, 150℃, SS, BF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37420
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)T274. (照射条件)RTNS-IIlast. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37564. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37564
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　-5.0赤2（180）. 日付元記載「10/26」.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37565. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37565
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37566. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37566
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37567. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37567
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37568. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37568
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37569. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37569
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37570. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37570
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37571. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37571
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37572. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37572
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-15.0　　0.0.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37573. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37573
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37574. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37574
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37575. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37575
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37576. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37576
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37577. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37577
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37578. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37578
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37579. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37579
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37580. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37580
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)αの.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37581. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37581
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37582. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37582
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　-1.0黒0（200）.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37583. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37583
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37584. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37584
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37585. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37585
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37586. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37586
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37587. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37587
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37588. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37588
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37589. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, ED., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37589
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37590. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 50K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37590
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37591. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, DF, 100K., [1988]10/26.

 アイテム
資料番号: L-37591
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988]10/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37592. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 50K., [1988年10月26日.]

 アイテム
資料番号: L-37592
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ（0.0赤1（160）.

日付: [1988年10月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37593. Ni, JMTRcontrolled, 300℃, 01, BF, 100K., [1988年10月26日.]

 アイテム
資料番号: L-37593
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1988年10月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ