メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88529. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)C.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88530. Ni, A862, JMTR , 150℃, DF, 52K., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　γ　＋1.1黒31（20）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88531. Ni, A862, JMTR , 150℃, ED., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88532. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF, 52K., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88532
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88533. Ni, A862, JMTR , 150℃, DF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88533
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ　＋1.8黒22（140）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88534. Ni, A862, JMTR , 150℃, ED., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88534
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88535. Ni, A862, JMTR , 150℃, BF., 1991. 2. 7.

 アイテム
資料番号: O-88535
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A862. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)δ　-0.9黒18（140）.

日付: 1991. 2. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88536. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88536
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EM　150℃-＞300℃　再pokishi　α-9.0黒12.5（140）A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88537. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88537
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88538. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88538
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88539. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88539
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88540. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88540
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88541. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88541
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88542. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88542
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B　.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88543. Ni, A982, JMTR , 150℃., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88543
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88544. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88544
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-4.0黒18（80）A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88545. Ni, A982, JMTR , 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88545
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ベター　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88546. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88546
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88547. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88547
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88548. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88548
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88549. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88549
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)独立　All G.B.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88550. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88550
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88551. Ni, A982, JMTR , 150℃, BF., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88551
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88552. Ni, A982, JMTR , 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88552
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A982. (照射条件)JMTR . (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)両方のGrainにcontrast合わせる.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88553. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88553
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃　EM面polish　α-24赤6-9（180）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88554. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88554
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88555. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88555
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88556. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88556
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88557. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88557
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88558. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88558
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88559. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88559
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88560. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88560
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88561. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88561
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88562. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88562
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88563. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88563
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-29　＋-0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88564. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88564
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88565. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88565
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88566. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88566
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88567. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88567
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88568. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88568
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88569. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88569
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88570. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88570
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88571. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88571
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88572. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88572
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α位置.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88573. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88573
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88574. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88574
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88575. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88575
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88576. Ni-２Si, A892, 150℃, BF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88576
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88577. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88577
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃α　-24黒3-6（120）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88578. Ni-２Cu, A922, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88578
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)A922. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ