電子顕微鏡写真 Electron micrographs

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88626. Ni, T42, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月10日.]

アイテム

資料番号: L-88626

範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)T42. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)失敗.

日付: [1993年7月10日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88627. Cu, DF, 73K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88627

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「'93/7/11（日）」. 実験者元記載「荒河」.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88628. Cu, DF, 73K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88628

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)奥.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88629. Cu, DF, 73K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88629

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)歪み近く.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88630. Cu, DF, 73K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88630

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)歪み近く.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88631. Cu, DF, 100K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88631

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)歪み近く.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88632. Cu, ED., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88632

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88633. Cu, DF, 30K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88633

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88634. Cu, DF, 30K., [19]'93/7/11（日）.

アイテム

資料番号: L-88634

範囲と内容

(試料)Cu. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'93/7/11（日）.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88635. Ni, He Ion照射., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88635

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)日付元記載「7/14 (Wed.)」. 実験者元記載「Y. Hayashi」.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88636. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88636

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88637. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88637

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88638. Ni, He Ion照射, DF, 50K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88638

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88639. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88639

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88640. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88640

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88641. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88641

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88642. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88642

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88643. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88643

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88644. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88644

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88645. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88645

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88646. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88646

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88647. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88647

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88648. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88648

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88649. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88649

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88650. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88650

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 3　focus　.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88651. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88651

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88652. Ni, He Ion照射, ED., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88652

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88653. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88653

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88654. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88654

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88655. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年]7/14 (Wed.).

アイテム

資料番号: L-88655

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]7/14 (Wed.).

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88656. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88656

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus. 実験者元記載「Y. Hayashi」.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88657. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88657

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88658. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88658

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88659. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88659

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88660. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88660

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88661. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88661

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88662. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88662

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88663. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88663

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88664. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88664

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88665. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88665

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88666. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88666

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88667. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88667

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88668. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88668

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88669. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88669

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88670. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88670

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)Just　focus.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88671. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88671

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Over 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88672. Ni, He Ion照射., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88672

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射.

(備考)Under 2　focus　.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88673. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88673

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88674. Ni, He Ion照射, ED., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88674

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-88675. Ni, He Ion照射, DF, 100K., [1993年7月14日.]

アイテム

資料番号: L-88675

範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)He Ion照射. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年7月14日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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