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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89562. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89562
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-15赤12（240）.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89563. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89563
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89564. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89564
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89565. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89565
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89566. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89566
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89567. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89567
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89568. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89568
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　同上.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89569. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89569
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89570. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89570
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89571. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89571
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89572. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89572
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89573. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, BF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89573
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89574. Cu-0.3Si, T24, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89574
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)T24. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の視野.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89575. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-27黒18（340）. 日付元記載「10/1」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89576. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89576
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89577. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89577
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-30黒6（180）.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89578. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89578
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89579. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89579
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89580. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, ED., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89580
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89581. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89581
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89582. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89582
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89583. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89583
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89584. Cu-0.3Ni, T44, LAMPF, 7D., [1993年]10/1.

 アイテム
資料番号: L-89584
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)T44. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D.

(備考)失敗.

日付: [1993年]10/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89619. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89619
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「10/3」.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89620. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89620
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89621. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89621
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89622. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89622
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89623. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89623
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89624. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89624
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89625. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89625
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89626. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89626
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.G.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89627. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89627
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89628. Cu, T06, LAMPF, 3B, BF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89628
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)厚い.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89629. Cu, T06, LAMPF, 3B, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89629
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T06. (照射条件)LAMPF. (照射量)3B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89630. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89630
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「10/3」. 実験者元記載「Kiz.」.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89631. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89631
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89632. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF, 100K., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89632
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89633. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

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資料番号: L-89633
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)B.G. ＆ disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89634. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 50K., [1993年]10/3.

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資料番号: L-89634
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89635. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 100K., [1993年]10/3.

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資料番号: L-89635
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)Disl.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89636. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89636
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89637. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89637
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89638. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89638
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89639. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89639
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89640. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89640
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89641. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89641
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89642. Cu, T08, LAMPF, 7D, DF., [1993年]10/3.

 アイテム
資料番号: L-89642
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)失敗.

日付: [1993年]10/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89643. Cu, T08, LAMPF, 7D, BF, 30K., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89643
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)Area A1.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89644. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89644
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, 　シリーズ] L-89645. Cu, T08, LAMPF, 7D, ED., [1993年10月3日.]

 アイテム
資料番号: L-89645
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)T08. (照射条件)LAMPF. (照射量)7D. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年10月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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