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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37745. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37745
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37746. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37746
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37747. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37747
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37748. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37748
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37749. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37749
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37750. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37750
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37751. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37751
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37752. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37752
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37753. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37753
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37754. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37754
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37755. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37755
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37756. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37756
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37757. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 15K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37757
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.5.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37758. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 150K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37758
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)150K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37759. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37759
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37760. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37760
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37761. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37761
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37762. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37762
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37763. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37763
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37764. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37764
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37765. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37765
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37766. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37766
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37767. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37767
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37768. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37768
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37769. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37769
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37770. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37770
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37771. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37771
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37772. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37772
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37773. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37773
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37774. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37774
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37775. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37775
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37776. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37776
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37777. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37777
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37778. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37778
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37779. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37779
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37780. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37780
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37781. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37781
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37782. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37782
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37783. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37783
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37784. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37784
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37785. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 37K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37785
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37786. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 50K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37786
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37787. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37787
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37788. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37788
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37789. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 20K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37789
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

(備考)①.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37790. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37790
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37791. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37791
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37792. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37792
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37793. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37793
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)③.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37794. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37794
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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