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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37795. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37795
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37796. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37796
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37797. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37797
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37798. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37798
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37799. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37799
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37800. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37800
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37801. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37801
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37802. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37802
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11.

(備考)↓ｇ　②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37803. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, 11, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37803
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

(備考)↓ｇ　②.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37804. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37804
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37805. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37805
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37806. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37806
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)↑ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37807. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37807
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37808. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37808
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37809. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37809
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37810. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37810
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37811. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37811
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37812. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37812
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37813. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37813
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37814. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37814
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37815. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37815
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37816. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37816
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)GBのloop　←ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37817. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37817
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37818. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37818
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37819. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37819
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37820. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37821. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37822. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)→ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37823. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37824. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37825. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37826. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37827. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37828. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37828
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37829. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37829
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37830. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37830
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37831. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37831
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37832. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37832
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37833. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37833
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37834. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37834
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37835. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37835
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37836. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37836
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37837. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37837
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37838. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37838
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37839. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37839
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37840. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37840
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37841. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37841
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37842. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37842
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

(備考)→ｇ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37843. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37843
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37844. Ni, JMTRuncontrolled, 300℃., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37844
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTRuncontrolled. (照射温度)300℃.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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