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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37895. Cu, A-1, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37895
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)さらに離れる.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37896. Cu, A-1, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37896
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)on　GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37897. Cu, A-1, JMTRcontrolled, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37897
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)on　GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37898. Cu, A-1, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37898
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)on　GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37899. Cu, A-1, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37899
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)on　GB　内部.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37900. Cu, A-1, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37900
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)つづき離れる.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37901. Cu, A-1, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37901
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A-1. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37902. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37902
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37903. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37903
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37904. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37904
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37905. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37905
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37906. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37906
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)C.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37907. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37907
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)void　contrast　C.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37908. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37908
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)void　contrast　B.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37909. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37909
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)void　contrast　A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37910. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37910
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　near　disl　厚い.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37911. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37911
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (条件・倍率等)50K.

(備考)同視野　void.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37912. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37912
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37913. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37913
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部　.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37914. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37914
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37915. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37915
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37916. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37916
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37917. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37917
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37918. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37918
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37919. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37919
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上全て同じgrain.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37920. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37920
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位そば　same　area.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37921. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37921
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void　contrast　same　area.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37922. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37922
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)void　density.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37923. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37923
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void　density.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37924. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37924
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loop＋void.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37925. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37925
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)voidのみ　差からloop　density.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37926. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37926
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)loop区別できる？.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37927. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37927
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37928. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37928
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)X.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37929. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37929
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37930. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37930
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37931. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37931
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37932. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37932
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37933. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37933
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37934. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37934
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37935. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37935
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37936., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37936
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37937., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37937
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37938., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37938
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37939., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37939
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37940., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37940
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37941., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37941
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37942. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-37942
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)厚いところon　Grain　boundaty　A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37943. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37943
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37944. Cu, C-2, JMTRuncontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37944
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)C-2. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)①　左側のpart.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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