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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37995. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37995
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37996. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37996
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37997. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37997
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37998. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37998
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37999. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-37999
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)隣.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38000. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 100K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38000
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38001. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38001
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38002. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38002
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38003. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 37K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38003
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)37K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38004. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38004
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)離.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38005. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38005
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)さらに離れる.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38006. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF, 10K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38006
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)転位のdenuted　zone.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38007. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, BF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38007
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別のgrain　boundary.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38008. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, DF., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38008
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)また別のGB.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38009. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38009
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38010. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38010
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)BとCは同じ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38011. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38011
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38012. Cu-2Ni, JMTRcontrolled, BF, 10K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38012
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)CDの.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38013. Cu-2Ni, JMTRcontrolled., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38013
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTRcontrolled.

(備考)Aの部分　voidがやや多いような気がする。.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38014. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38014
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38015. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38015
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38016. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38016
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大きく写っているのはごみ.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38017. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38017
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38018. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38018
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ループいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38019. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38019
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38020. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38020
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部厚い所　void　loop全くいない.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38021. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38021
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同上視野.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38022. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38022
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38023. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38023
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38024. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38024
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38025. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38025
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38026. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38026
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38027. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38027
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38028. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38028
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38029. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38029
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)SFTのみらしい.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38030. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38030
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38031. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38031
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38032. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38032
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別の小さな穴　厚い.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38033. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, BF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38033
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38034. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38034
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38035. Cu-2Si, A-3, JMTRcontrolled, ED., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38035
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)A-3. (照射条件)JMTRcontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38036. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38036
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38037. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38037
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38038. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38038
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38039. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

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資料番号: L-38039
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38040. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38040
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38041. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 50K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38041
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38042. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38042
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38043. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38043
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38044. Cu-2Si, C-3, JMTRuncontrolled, DF, 30K., [1988年10月27日.]

 アイテム
資料番号: L-38044
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)C-3. (照射条件)JMTRuncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年10月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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