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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38645. Ni-2Cu, A011, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38645
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)上向きg.

(備考)45-63は組.

日付: [1988年10月31日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38664. Ni-2Cu, A011, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38664
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A011. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)下向きg.

(備考)64-71は組.

日付: [1988年10月31日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38678. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38678
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)78-88は一組 以下700まではα.

日付: [1988年10月31日.]