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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38680. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38681. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38682. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38683. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38684. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38685. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38686. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38687. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38688. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38689. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)89-98は一組.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38690. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38690
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38691. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38691
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38692. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38692
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38693. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38693
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38694. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38694
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38695. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38695
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38696. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38696
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38697. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38697
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38698. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, BF., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38698
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38699. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38699
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38700. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38700
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上ここまでα.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38701. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38701
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38702. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38702
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38703. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38703
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38704. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38704
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38705. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38705
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38706. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38706
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38707. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38707
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38708. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38708
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38709. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38709
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38710. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38710
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)g　上向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38711. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38711
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38712. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38712
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38713. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38713
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38714. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38714
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38715. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38715
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38716. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38716
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38717. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38717
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38718. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38718
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38719. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38719
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38720. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38720
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38721. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38721
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38722. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃, ED., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38722
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)g 下向き.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38723. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

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資料番号: L-38723
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)他のGrain.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38724. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38724
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38725. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38725
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38726. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38726
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38727. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38727
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38728. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38728
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃.

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-38729. Ni-2Sn, A056, JMTR controlled, 290℃., [1988年10月31日.]

 アイテム
資料番号: L-38729
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A056. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 (3).

日付: [1988年10月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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