電子顕微鏡写真 Electron micrographs

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39034. SUS, 　B777, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39034

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　B777. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39035. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39035

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)極微細なdotsがまばらにいる。.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39036. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39036

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)DF s＞0では殆ど見えない.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39037. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39037

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)s＞＞0では良く見える.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39038. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39038

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)s＞＞＞0では極めて小さく見える.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39039. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39039

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39040. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39040

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)50K.

(備考)以上38-40は一組　1.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39041. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39041

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39042. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, ED., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39042

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上41-42は一組　2.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39043. SUS, 　J094, RTNS-II, H290, S2, DF, 50K., [1988年12月2日.]

アイテム

資料番号: L-39043

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　J094. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H290. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)かぶったために使用不可.

日付: [1988年12月2日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39386. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39386

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「89 1/28」.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39387. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39387

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39388. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39388

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39389. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39389

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39390. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39390

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39391. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39391

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39392. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39392

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39393. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39393

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39394. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39394

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≦0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39395. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39395

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39396. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39396

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39397. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39397

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39398. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39398

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39399. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39399

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 上向き.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39400. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39400

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39401. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39401

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39402. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39402

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 1.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39403. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39403

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 1.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39404. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39404

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A 2.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39405. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39405

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B 2.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39406. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39406

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39407. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39407

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 上向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39408. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39408

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)1.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39409. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, DF, 330k., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39409

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330k. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39410. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39410

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)2.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39411. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 30K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39411

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)g 下向き. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39412. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39412

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)3.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39413. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330K., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39413

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330K.

(備考)3 撮り直し.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39414. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, BF, 330k., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39414

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)330k.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39415. Ni-2Ge, A041, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [19]89 1/28.

アイテム

資料番号: L-39415

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A041. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]89 1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39416. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39416

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR(01) コントロール. 日付元記載「1/28」.

日付: [1989年]1/28.