電子顕微鏡写真 Electron micrographs

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39426. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39426

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39427. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39427

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ダメ.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39428. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39428

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39429. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39429

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39430. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39430

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39431. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 200K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39431

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39432. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39432

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39433. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39433

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39434. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39434

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39435. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年]1/28.

アイテム

資料番号: L-39435

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)ジャスト.

日付: [1989年]1/28.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39436. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39436

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39437. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39437

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39438. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39438

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39439. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39439

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39440. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39440

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39441. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39441

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39442. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39442

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39443. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39443

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39444. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39444

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39445. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39445

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39446. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39446

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39447. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39447

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39448. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39448

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39449. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39449

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39450. Ni-2Si, A026, JMTR controlled, 300℃, ED, 55cm., [1989年1月28日.]

アイテム

資料番号: L-39450

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A026. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年1月28日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39451. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39451

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)41, 42, 43　A なにもいないようだ. 日付元記載「'89. 1. 29」.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39452. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39452

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39453. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39453

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39454. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39454

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39455. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39455

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39456. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39456

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39457. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39457

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39458. SUS, JOYO, 500℃, e21, ED, 55cm., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39458

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39459. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39459

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39460. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 30K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39460

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39461. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39461

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39462. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 50K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39462

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39463. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 50K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39463

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39464. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 100K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39464

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39465. SUS, JOYO, 500℃, e21, ED., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39465

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39466. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39466

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39467. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39467

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39468. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 50K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39468

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39469. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 50K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39469

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39470. SUS, JOYO, 500℃, e21, ED., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39470

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39471. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39471

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39472. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39472

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39473. SUS, JOYO, 500℃, e21, BF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39473

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39474. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 20K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39474

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39475. SUS, JOYO, 500℃, e21, DF, 50K., [19]'89. 1. 29.

アイテム

資料番号: L-39475

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JOYO. (照射温度)500℃. (照射量)e21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]'89. 1. 29.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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