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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39676. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39676
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EM アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39677. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39677
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39678. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39678
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39679. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39679
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39680. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39680
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39681. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39681
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39682. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39682
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39683. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39683
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39684. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39684
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39685. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39685
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39686. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39686
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39687. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39687
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39688. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39688
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39689. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39689
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39690. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39690
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39691. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39691
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39692. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39692
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39693. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39693
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39694. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39694
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39695. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39695
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39696. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39696
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39697. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39697
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39698. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39698
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39699. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39699
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39700. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39700
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39701. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39701
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39702. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39702
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)転位.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39703. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39703
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39704. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39704
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39705. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39705
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39706. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39706
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39707. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39707
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39708. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39708
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39709. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39709
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39710. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39710
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39711. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39711
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39712. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39712
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39713. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39713
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39714. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39714
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39715. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39715
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39716. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39716
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 左斜め下.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39717. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39717
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 左斜め下.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39718. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39718
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39719. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

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資料番号: L-39719
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39720. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39720
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39721. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39721
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39722. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39722
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39723. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, ED, 57cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39723
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm. (反射ベクトルg)g 右斜め上.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39724. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39724
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以下28までα　アンコントロール. 日付元記載「2/1」.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39725. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39725
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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