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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39726. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39726
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39727. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39727
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39728. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39728
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以上α.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39729. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39729
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39730. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39730
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)以下36までβ.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39731. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39731
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39732. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39732
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39733. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39733
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39734. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39734
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39735. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, DF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39735
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39736. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, ED., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39736
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上β.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39737. Ni-2Cu, JMTR, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39737
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39738. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39738
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39739. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39739
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39740. Ni-2Cu, JMTR, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39740
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39741. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39741
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39742. Ni-2Cu, JMTR, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39742
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39743. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39743
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39744. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39744
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39745. Ni-2Cu, JMTR, BF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39745
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39746. Ni-2Cu, JMTR, DF, 50K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39746
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39747. Ni-2Cu, JMTR, BF, 100K., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39747
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-39748. Ni-2Cu, JMTR, ED, 55cm., [1989年]2/1.

 アイテム
資料番号: L-39748
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年]2/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40196. Ni, 10K Ar, 100μA., [1989年]3/17.

 アイテム
資料番号: L-40196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)10K Ar. (照射量)100μA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「3/17」.

日付: [1989年]3/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40197. Ni, 10K Ar, 100μA., [1989年]3/17.

 アイテム
資料番号: L-40197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)10K Ar. (照射量)100μA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]3/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40198. Ni, 10K Ar, 100μA., [1989年]3/17.

 アイテム
資料番号: L-40198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)10K Ar. (照射量)100μA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]3/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40199. Ni, 10K Ar, 100μA., [1989年]3/17.

 アイテム
資料番号: L-40199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)10K Ar. (照射量)100μA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]3/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40200. Ni, 10K Ar, 100μA., [1989年]3/17.

 アイテム
資料番号: L-40200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)10K Ar. (照射量)100μA. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年]3/17.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40201. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 50K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40201
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR control　A 以下09まで　st.1. 日付元記載「平成元年（1989）3/17〜」.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40202. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40202
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40203. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40203
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40204. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, BF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40204
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40205. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40205
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40206. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40206
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40207. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40207
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40208. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, ED., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40208
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40209. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40209
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A 以上st.1.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40210. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40210
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B? 以下218まで　st.2.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40211. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40211
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Bの隣.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40212. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40212
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)さらに隣.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40213. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40213
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A?.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40214. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40214
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)さらに大.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40215. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40215
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40216. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 100K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40216
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)Bの隣.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40217. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, DF, 50K., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40217
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)B.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40218. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, ED., 平成元年（1989）3/17〜.

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資料番号: L-40218
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上210-217　st.2.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40219. Cu-0.3at%Ge, A148, JMTR controlled, BF, 50K., 平成元年（1989）3/17〜.

 アイテム
資料番号: L-40219
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号) A148. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)loops.

日付: 平成元年（1989）3/17〜.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40220. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40220
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR control　　A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40221. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40221
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40222. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, BF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40222
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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