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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40223. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40223
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40224. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40224
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40225. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40225
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40226. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40226
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40227. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40227
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40228. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40228
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40229. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40229
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40230. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40230
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40231. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40231
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40232. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40232
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大　すぐ隣.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40233. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40233
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40234. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40234
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40235. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40235
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40236. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40236
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40237. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40237
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40238. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40238
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40239. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40239
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40240. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, BF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40240
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40241. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40241
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40242. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40242
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40243. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40243
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大　すぐ隣.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40244. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40244
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40245. Cu-0.3at%Ni, A118, JMTR controlled, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40245
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号) A118. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40246. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40246
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR　A 以下55まで　st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40247. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40247
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40248. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40248
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40249. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40249
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40250. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40250
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40251. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40251
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40252. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40252
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40253. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40253
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40254. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40254
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40255. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40255
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上　46-55　はst.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40256. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40256
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B 以下63まで　st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40257. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40257
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40258. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40258
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40259. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40259
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40260. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40260
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40261. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40261
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40262. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 50K., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40262
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40263. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, ED., [1989年3月17日.]

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資料番号: L-40263
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上　56-63 はst.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40264. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40264
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40265. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40265
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40266. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40266
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40267. Cu-0.3at%Si, A133, JMTR, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40267
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (試料番号) A133. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40268. Cu-0.3at%Sn, A163, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40268
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A163. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR　以下68-78はst.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40269. Cu-0.3at%Sn, A163, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40269
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A163. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40270. Cu-0.3at%Sn, A163, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40270
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A163. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)この試料は殆どのGrainが100.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40271. Cu-0.3at%Sn, A163, JMTR, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40271
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A163. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40272. Cu-0.3at%Sn, A163, JMTR., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40272
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) A163. (照射条件)JMTR.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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