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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40474. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40474
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40475. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40475
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40476. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40476
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40477. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40477
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40478. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, BF, 10K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40478
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40479. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, BF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40479
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40480. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃, BF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40480
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40481. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40481
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40482. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40482
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40483. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40483
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40484. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40484
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40485. Cu-2Si, A138, JMTR controlled, 300℃., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40485
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A138. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40486. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40486
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR controlled irrad.　以下st.1(500まで）.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40487. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40487
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40488. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40488
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A 厚い部分　loop無.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40489. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40489
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40490. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40490
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40491. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40491
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A 以上86-91はA.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40492. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40492
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)以下92-500まではB.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40493. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40493
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40494. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40494
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40495. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40495
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40496. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40496
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40497. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40497
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40498. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40498
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40499. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40499
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40500. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40500
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B 以上486-500はst.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40501. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40501
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　以下501-506はST.2'.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40502. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40502
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40503. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40503
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40504. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40504
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40505. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40505
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40506. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40506
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B 以上501-506はst.2'.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40507. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40507
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A 以下507-512はST.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40508. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40508
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40509. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40509
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40510. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40510
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40511. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40511
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40512. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40512
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)以上507-512はST.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40513. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40513
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40514. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40514
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40515. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40515
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40516. Cu-2at%Ge, A153, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40516
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A153. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40517. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40517
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR controlled irrad. A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40518. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40518
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40519. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, BF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40519
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40520. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40520
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40521. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40521
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部 st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40522. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40522
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40523. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40523
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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