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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40524. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40524
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40525. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40525
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40526. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40526
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40527. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40527
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40528. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40528
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40529. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40529
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40530. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40530
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40531. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40531
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40532. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40532
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40533. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40533
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40534. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40534
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40535. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40535
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40536. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40536
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40537. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40537
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40538. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40538
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40539. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40539
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40540. Cu-2at%Ni, A123, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40540
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A123. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40541. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40541
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR controlled irrad.　再.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40542. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40542
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40543. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40543
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40544. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40544
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40545. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40545
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40546. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40546
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40547. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40547
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40548. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40548
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)GB.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40549. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40549
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40550. Cu-0.3at%Si, JMTR controlled, 300℃, DF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40550
範囲と内容

(試料)Cu-0.3at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)void contrastのはず。Voidいない.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40551. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40551
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR controlled irrad. A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40552. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40552
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40553. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40553
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40554. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40554
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40555. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40555
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40556. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40556
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40557. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40557
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40558. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40558
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40559. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40559
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40560. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40560
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40561. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40561
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40562. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40562
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40563. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40563
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40564. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40564
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40565. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40565
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B のすぐそば.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40566. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40566
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40567. Cu-0.05Ge, A143, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40567
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A143. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40568. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40568
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)JMTR contol　B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40569. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40569
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40570. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40570
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40571. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40571
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40572. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40572
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40573. Cu-0.05Si, A128, JMTR controlled, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40573
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A128. (照射条件)JMTR controlled. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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