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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40674. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40674
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40675. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40675
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40676. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40676
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40677. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40677
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40678. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40678
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40679. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40679
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40680. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40680
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40681. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40681
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40682. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40682
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40683. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40683
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40684. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, DF, 200K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40684
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40685. Cu-0.05Sn, JMTR controlled, 300℃, BF, 20K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40685
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40686. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40686
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)667からの続き.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40687. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, BF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40687
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40688. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40688
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40689. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, DF, 50K., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40689
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40690. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40690
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40691. ムライト, ED., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40691
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40692. ムライト, BF., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40692
範囲と内容

(試料)ムライト. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40693. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40693
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40694. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40694
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-40695. ムライト., [1989年3月17日.]

 アイテム
資料番号: L-40695
範囲と内容

(試料)ムライト.

日付: [1989年3月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41351. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41351
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)110. 日付元記載「平成元 6/5」.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41352. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41352
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41353. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41353
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41354. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41354
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)SFT 四角にみえるが.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41355. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41355
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41356. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41356
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41357. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41357
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41358. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41358
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41359. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41359
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41360. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41360
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)110.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41361. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41361
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41362. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41362
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41363. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41363
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↓ 1.5～2°傾けステレオ　.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41364. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41364
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

(備考)↑.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41365. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41365
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41366. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41366
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41367. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41367
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41368. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41368
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41369. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41369
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)再び　100.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41370. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41370
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41371. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41371
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41372. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41372
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41373. SUS316, RTNS-IIFin, 350℃, SS, ED., 平成元 6/5.

 アイテム
資料番号: L-41373
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元 6/5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41374. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41374
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41375. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, BF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41375
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41376. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41376
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41377. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41377
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41378. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41378
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1 B defocus.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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