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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41379. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41379
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41380. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41380
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A　　AとBはすぐそば.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41381. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41381
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41382. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41382
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)はずしすぎ.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41383. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41383
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41384. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41384
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41385. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41385
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41386. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41386
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41387. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41387
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41388. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41388
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41389. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41389
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41390. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41390
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41391. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41391
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41392. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41392
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2 B.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41394. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41394
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41395. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41395
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41396. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41396
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41397. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41397
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41398. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41398
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41399. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41399
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41400. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41400
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41401. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41401
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41402. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41402
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41403. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41403
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41404. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 330K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41404
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41405. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41405
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41406. pure Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41406
範囲と内容

(試料)pure Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41407. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41407
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41408. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41408
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41409. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41409
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41410. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41410
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41411. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41411
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41412. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41412
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41413. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41413
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41414. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41414
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41415. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41415
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41416. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41416
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41417. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41417
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41418. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41418
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41419. Cu-2Sn, 12D, JMTR uncontrolled, 300℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41419
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号) 12D. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41420. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41420
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41421. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41421
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41422. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41422
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41423. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41423
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41424. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41424
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41425. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41425
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41426. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41426
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41427. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41427
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41428. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41428
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41429. SUS, B775, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41429
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B775. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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