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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41630. SUS, K286, RTNS-II, 350°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41630
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K286. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41631. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41631
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41632. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41632
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)下記４枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41633. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41633
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41634. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41634
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41635. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41635
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41636. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41636
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

(備考)下記２枚一組.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41637. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41637
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41638. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41638
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41639. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED　ミス., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41639
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED　ミス.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41640. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41640
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41641. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41641
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41642. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41642
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41643. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41643
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41644. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41644
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41645. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41645
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41646. SUS, K277, RTNS-II, 350°, WW, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41646
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41647. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41647
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41648. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41648
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41649. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41649
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41650. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41650
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41651. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41651
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41652. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41652
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41653. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41653
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41654. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41654
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41655. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41655
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41656. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41656
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41657. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41657
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41658. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41658
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41659. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41659
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41660. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41660
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41661. Cu-2at%Si, JMTR uncontrolled, 290°, DF, 330K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41661
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290°. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)以上すべて同Grain.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41662. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41662
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41663. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41663
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41664. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41664
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41665. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41665
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41666. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41666
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41667. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41667
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41668. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41668
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41669. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41669
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41670. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41670
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 2/1/2 ゴミをのぞくため.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41671. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41671
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41672. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41672
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41673. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41673
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41674. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41674
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41675. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41675
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41676. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41676
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41677. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41677
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41678. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41678
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41679. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41679
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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