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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41680. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41680
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41681. Cu-2at%Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41681
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)以上すべて同Grain.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41682. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41682
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41683. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41683
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41684. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41684
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41685. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41685
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41686. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41686
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41687. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41687
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41688. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41688
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41689. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41689
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中 FC＋4.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41690. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41690
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41691. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41691
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41692. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41692
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41693. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41693
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)|.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41694. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41694
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)|.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41695. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41695
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41696. Cu-2at%Ni, JMTR uncontrolled, 290℃, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41696
範囲と内容

(試料)Cu-2at%Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41697. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41697
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41698. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41698
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41699. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41699
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41700. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41700
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41701. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41701
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41702. Cu-2Sn 再, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41702
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41703. Cu-2Sn 再, ED., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41703
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn 再. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41704. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41704
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　 1　　3μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41705. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41705
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　 1　　3μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41706. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41706
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　 1　　3μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41707. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41707
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　2　　10μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41708. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41708
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　 2　　10μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41709. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41709
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　 2　 10μA.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41710. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41710
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)やりなおし.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41711. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41711
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　3　 100μA　 うすい.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41712. Au cold., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41712
範囲と内容

(試料)Au cold.

(備考)ケンマ条件調べ　3　 100μA うすい.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41713. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 50K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41713
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41714. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41714
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41715. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41715
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41716. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41716
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41717. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41717
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41718. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41718
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41719. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41719
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41720. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41720
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41721. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, ED., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41721
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」111.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41722. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 30K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41722
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41723. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41723
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41724. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41724
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41725. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41725
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41726. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41726
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41727. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 200K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41727
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41728. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, DF, 100K., [1989年6月5日.]

 アイテム
資料番号: L-41728
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

(備考)1°.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41729. SUS, J121, RTNS-II, 290°, M, ED., [1989年6月5日.]

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資料番号: L-41729
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J121. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290°. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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