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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42849. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42849
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42850. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42850
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42851. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42851
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42852. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42852
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42853. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42853
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42854. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42854
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42855. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42855
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42856. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42856
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42857. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42857
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42858. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42858
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42859. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42859
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42860. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42860
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42861. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42861
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42862. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42862
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42863. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42863
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42864. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42864
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42865. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42865
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42866. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42866
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42867. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42867
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42868. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42868
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42869. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42869
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42870. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42870
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42871. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42871
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42872. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42872
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42873. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42873
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42874. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42874
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42875. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42875
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42876. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42876
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42877. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42877
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42878. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42878
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42879. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42879
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42880. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42880
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42881. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42881
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42882. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42882
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42883. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 20K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42883
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42884. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42884
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42885. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42885
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42886. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42886
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42887. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42887
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β2.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42888. Ni-0.3Sn, A061, JMTR controlled, 290℃, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42888
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A061. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42889. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42889
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42890. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42890
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42891. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42891
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42892. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42892
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42893. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, ED, 55cm., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42893
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42894. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42894
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)a.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42895. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42895
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42896. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42896
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42897. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42897
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42898. Ni-0.3Si, A031, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42898
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A031. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)b.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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