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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42949. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42949
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42950. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42950
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42951. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42951
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42952. Ni-0.3Cu, A016, JMTR controlled, 290℃, BF, 10K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42952
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A016. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42953. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, DF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42953
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42954. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42954
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42955. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42955
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42956. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42956
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42957. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42957
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42958. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42958
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42959. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42959
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42960. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42960
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42961. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42961
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42962. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42962
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42963. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42963
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42964. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42964
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42965. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42965
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42966. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42966
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42967. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42967
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42968. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42968
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42969. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42969
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42970. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42970
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42971. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42971
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42972. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42972
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42973. SUS, K212, RTNS-II　last, RT, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42973
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K212. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42974. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42974
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42975. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42975
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42976. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42976
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42977. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42977
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42978. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42978
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42979. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42979
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42980. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42980
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42981. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42981
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42982. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42982
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42983. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42983
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42984. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42984
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42985. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42985
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42986. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42986
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42987. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42987
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42988. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42988
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42989. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42989
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42990. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42990
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42991. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42991
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42992. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42992
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42993. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42993
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42994. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42994
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42995. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42995
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42996. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42996
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42997. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42997
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42998. SUS, K236, RTNS-II　last, 150℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42998
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K236. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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