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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43600. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43600
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43601. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43601
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43602. SUS, 　　B755, 0RTNS-II, 200℃, WW, ED., [19]'89. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43602
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)　　B755. (照射条件)0RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'89. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43603. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43603
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　C. 日付元記載「1989. 8. 28.」.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43604. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43604
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43605. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43605
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)200K.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43606. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43606
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43607. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 200K., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43607
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43608. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43608
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43609. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43609
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43610. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43610
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43611. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43611
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43612. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43612
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43613. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43613
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43614. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43614
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43615. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43615
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43616. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43616
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43617. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43617
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43618. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43618
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A　　ピンボケ.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43619. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43619
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　A.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43620. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43620
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43621. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43621
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　C.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43622. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43622
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α　D.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43623. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., 1989. 8. 28.

 アイテム
資料番号: L-43623
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43624. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43624
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43625. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43625
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　E.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43626. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43626
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43627. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43627
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43628. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43628
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43629. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43629
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43630. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43630
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43631. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43631
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43632. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43632
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43633. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43633
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43634. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43634
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43635. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43635
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43636. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43636
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43637. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43638. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43638
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43639. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43639
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43640. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43640
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43641. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43641
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43642. Ni, N102, JMTR controlled, 400℃ , DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43642
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N102. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃ . (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43643. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43643
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43644. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, BF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43644
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43645. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43645
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43646. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43646
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43647. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43647
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43648. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43648
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43649. Ni-2Sn, N253, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月28日.]

 アイテム
資料番号: L-43649
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N253. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: [1989年8月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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