電子顕微鏡写真 Electron micrographs

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43759. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43759

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43760. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43760

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞0　just.

(備考)A γ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43761. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43761

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↓. (ブラック条件からのずれs)over 1step(M-L).

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43762. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43762

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)under.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43763. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43763

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↑.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43764. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43764

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A δ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43765. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43765

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B δ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43766. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43766

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)↑. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B δ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43767. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43767

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A δ.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43768. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43768

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43769. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43769

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43770. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 10K., 1989. 8. 30.

アイテム

資料番号: L-43770

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1989. 8. 30.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43771. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43771

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43772. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43772

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)75とg 逆.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43773. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43773

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43774. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43774

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43775. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, DF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43775

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)72とg 逆.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43776. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43776

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43777. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43777

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G.B.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43778. Ni-2Si, N133, JMTR controlled, 400℃, BF, 20K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43778

範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N133. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G.B.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43779. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43779

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)T-Controlled A γ.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43780. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43780

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43781. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43781

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43782. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43782

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A γ.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43783. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43783

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C γ.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43784. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43784

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43785. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43785

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43786. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43786

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43787. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43787

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43788. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43788

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43789. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43789

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43790. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43790

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43791. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43791

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43792. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43792

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43793. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43793

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43794. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43794

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E α.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43795. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43795

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43796. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43796

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)D β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43797. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 50K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43797

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)E β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43798. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43798

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43799. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43799

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43800. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43800

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K.

(備考)B β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43801. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43801

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43802. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43802

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↓　下とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43803. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, DF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43803

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)↑　上とs逆.

(備考)A β.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43804. Ni-2Ge, N223, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43804

範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N223. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43805. Ni, N103, JMTR controlled, 400℃, BF, 5K., [1989年8月30日.]

アイテム

資料番号: L-43805

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)N103. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5K. (ブラック条件からのずれs)s＞0 下と対.

(備考)T-Uncontrolled，　露光短 sizeを見るため.

日付: [1989年8月30日.]