電子顕微鏡写真 Electron micrographs

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7772. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7772

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7773. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7773

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7774. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7774

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7775. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7775

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7776. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7776

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7777. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7777

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7778. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7778

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7779. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7779

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7780. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7780

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7781. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7781

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7782. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7782

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7783. Ni, A67, RTNS-II, Y-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日以前.], [1987-04-01/1987-07-20.]

アイテム

資料番号: L-7783

範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A67. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)Y-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日以前.]; [1987-04-01/1987-07-20.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7784. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7784

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)薄いところにはコンタミ.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7785. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7785

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小　2.5g.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7786. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7786

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 2.8g.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7787. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7787

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7788. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7788

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7789. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7789

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7790. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7790

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7791. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7791

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中 3.0g.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7792. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7792

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大 3.3g.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7793. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7793

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7794. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7794

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)エッジ以外にゴミなし.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7795. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7795

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7796. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7796

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7797. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7797

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7798. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7798

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7799. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7799

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

(備考)ゴミ.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7800. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7800

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7801. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7801

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7802. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 73K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7802

範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7803. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7803

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7804. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7804

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7805. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7805

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7806. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7806

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7807. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7807

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)隣　↓.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7808. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7808

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)　　↑.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7809. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7809

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7810. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7810

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7811. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7811

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7812. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7812

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7813. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7813

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7814. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7814

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7815. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7815

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7816. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7816

範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7817. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7817

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7818. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7818

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7819. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7819

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)大絞り.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7820. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7820

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7821. Cu-2Sn, RTNS-II, 150℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

アイテム

資料番号: L-7821

範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小絞り.

日付: [1987年7月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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