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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44898. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44898
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44899. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44899
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44900. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44900
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↑.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44901. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44901
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)FC＋5.

(備考)↑.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44902. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44902
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2(以上895-902まで).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44903. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, ?., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44903
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)?.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44904. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44904
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同じGrain 別視野.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44905. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44905
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s～0.

(備考)上と同じGrain.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44906. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44906
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44907. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44907
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44908. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44908
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中(＋FC＋10).

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44909. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, DF, 10K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44909
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44910. Cu-2Sn, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44910
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44911. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44911
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44912. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44912
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44913. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44913
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44914. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44914
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44915. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44915
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44916. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44916
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44917. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44917
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44918. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44918
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44919. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44919
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44920. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44920
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44921. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44921
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44922. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44922
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44923. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, BF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44923
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44924. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44924
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44925. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44925
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44926. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44926
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44927. Cu-2Ge, JMTR controlled, 200℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44927
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)sマイナス.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44928. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 15K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44928
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44929. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44929
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44930. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44930
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44931. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44931
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44932. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44932
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44933. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44933
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44934. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44934
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44935. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44935
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44936. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44936
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)110ちかく.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44937. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44937
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44938. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44938
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44939. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED, 55cm., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44939
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44940. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44940
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2つはずし.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44941. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44941
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44942. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44942
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44943. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44943
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44944. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44944
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44945. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED, 55cm., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44945
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44946. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 15K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44947. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44947
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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