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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46537. Ni-2Sn, JMTR, 350℃., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46537
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46538. Ni-2Sn, JMTR, 350℃., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46538
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46539. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46539
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46540. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46540
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46541. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46541
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46542. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46542
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46543. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, ED., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46543
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46544. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46544
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46545. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46545
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46546. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46546
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46547. Ni-2Sn, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]'90. 3. 7.

 アイテム
資料番号: L-46547
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'90. 3. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46548. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46548
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 3. 8」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46549. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46549
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46550. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46550
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46551. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 10K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46552. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46553. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46554. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46555. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46556. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46557. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46558. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46559. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 10K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46560. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46561. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46562. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46563. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46563
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46564. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46564
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46565. Ni-2Ge, JMTR, 350℃, ED., [19]90. 3. 8.

 アイテム
資料番号: L-46565
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [19]90. 3. 8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46566. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46566
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46567. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46567
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46568. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46568
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46569. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46569
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46570. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46570
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46571. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46571
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46572. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46572
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46573. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46573
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46574. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46574
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)」.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46575. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46575
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46576. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46576
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46577. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46577
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46578. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46578
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46579. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 50K., [1990年3月8日.]

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資料番号: L-46579
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46580. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46580
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46581. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46581
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46582. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46582
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)」.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46583. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46583
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)90/3/8ケンマ.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46584. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, BF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46584
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46585. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃, DF, 30K., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46585
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-46586. Cu-2Ni, JMTR controlled, 350℃., [1990年3月8日.]

 アイテム
資料番号: L-46586
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)350℃.

日付: [1990年3月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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