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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7922. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7922
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑ A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7923. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7923
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑ A .

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7924. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7924
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)↑ A.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7925. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7925
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)B.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7926. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7926
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7927. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, BF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7927
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7928. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7928
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓　ST.2.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7929. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7929
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7930. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7930
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7931. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7931
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7932. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7932
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7933. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7933
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7934. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7934
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓ 歪.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7935. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7935
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓ ST.1.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7936. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7936
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7937. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7937
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7938. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, ED, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7938
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7939. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7939
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)↓.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7940. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7940
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)↓　　ST.2.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7941. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7941
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7942. Cu-2Si, RTNS-II, RT(last), SS, DF, 200K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7942
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)↑ ED略.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7943. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7943
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7944. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7944
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7945. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7945
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7946. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7947. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7947
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7948. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7948
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7949. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7949
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7950. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7950
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7951. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7951
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7952. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, DF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7952
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7953. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7953
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7954. Ni, A132, RTNS-II, H-290℃, W, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7954
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7955. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7955
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7956. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

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資料番号: L-7956
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7957. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

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資料番号: L-7957
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7958. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

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資料番号: L-7958
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7959. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

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資料番号: L-7959
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7960. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

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資料番号: L-7960
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7961. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, ED, 55cm., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7961
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7962. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, DF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7962
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7963. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7963
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7964. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7964
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7965. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 50K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7965
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7966. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7966
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7967. Ni, A225, RTNS-II, H-290℃, WW, BF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7967
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A225. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)H-290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7968. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 30K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)引張り1%.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7969. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 73K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)73K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7970. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-7971. Ni, A517, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: L-7971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A517. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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