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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48405. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48405
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48406. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48406
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48407. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48407
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48408. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48408
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48409. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48409
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48410. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, DF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48410
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48411. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48411
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48412. Ni-2Cu, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48412
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48413. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48413
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)転位なし. ほとんどループ. 日付元記載「90. 6. 28」. 実験者元記載「（円の中に）浜」.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48414. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48414
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.B.にループ多い。ボイドほんとに少ない.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48415. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48415
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48416. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48417. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48417
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48418. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 50K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48418
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)ボイド少々.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48419. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 20K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48419
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48420. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48420
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48421. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48421
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48422. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48422
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48423. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 30K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48423
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48424. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48424
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)G.B.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48425. Ni-2Si, JMTR, 350℃, DF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48425
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48426. Ni-2Si, JMTR, 350℃, BF, 100K., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48426
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48427. Ni-2Si, JMTR, 350℃, ED, 55cm., [19]90. 6. 28.

 アイテム
資料番号: L-48427
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]90. 6. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48428. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48428
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48429. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48429
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48430. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48430
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓　だんだん.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48431. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48431
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓　　大きく.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48432. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48432
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48433. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48433
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0二つ外し.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48434. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED, 55cm., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48434
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48435. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48435
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48436. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 30K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48436
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)」.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48437. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48437
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48438. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48438
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48439. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48439
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48440. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48440
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48441. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48441
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48442. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48442
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48443. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48443
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48444. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, ED, 55cm., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48444
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48445. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, DF, 30K., [1990年6月28日.]

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資料番号: L-48445
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48446. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 50K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48446
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48447. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 30K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48447
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48448. Ni, B269, RTNS-II, 200℃, SSS, BF, 30K., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48448
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48449. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48449
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48450. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48450
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48451. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48451
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48452. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48452
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48453. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48453
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-48454. Ni, RTNS-II, 200℃, SS., [1990年6月28日.]

 アイテム
資料番号: L-48454
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1990年6月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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