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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61719. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61719
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.B.近く.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61720. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61720
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61721. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61721
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61722. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61722
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61723. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61723
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(5).

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61724. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61724
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61725. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61725
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61726. Cu-2Ni, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61726
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61727. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61727
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61728. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61728
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61729. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61729
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61730. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61730
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61731. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61731
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61732. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61732
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(5).

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61733. Cu-2Si, JMTR, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61733
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61734. Cu-2Si, JMTR, 120℃, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61734
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61735. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61735
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61736. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61736
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61737. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61737
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61738. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61738
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61739. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61739
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61740. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61740
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(5).

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61741. Cu-2Si, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61741
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61742. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61742
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.B.の近く.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61743. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61743
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61744. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61744
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61745. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61745
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61746. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61746
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61747. Cu-2Si, JMTR, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61747
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61748. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61748
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61749. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 100., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61749
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61750. Cu-2Si, JMTR, 120℃, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61750
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)20K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61751. Cu-2Si, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61751
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61752. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61752
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61753. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61753
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61754. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61754
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61755. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61755
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61756. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61756
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61757. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61757
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61758. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61758
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61759. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, BF, 20K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61759
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61760. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61760
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61761. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 50K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61761
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61762. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

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資料番号: L-61762
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61763. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61763
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61764. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61764
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61765. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, 150K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61765
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(5).

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61766. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61766
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61767. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, BF, 20K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61767
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-61768. Cu-2Ge, JMTR, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: L-61768
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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