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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9172. Cu-2Ni, G290, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9172
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G290. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9173. Cu-2Ni, G290, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9173
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G290. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9174. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9174
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9175. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9175
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9176. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9176
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9177. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9177
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9178. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9178
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9179. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9179
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9180. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9180
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9181. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9181
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9182. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9182
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

(備考)A st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9183. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9183
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9184. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9184
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9185. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9185
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9186. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9186
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9187. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9187
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9188. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9188
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9189. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9189
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9190. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9190
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)d大大.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9191. Cu-2Ge, G140, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9191
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G140. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9192. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9192
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9193. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9193
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9194. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9194
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9195. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9195
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9196. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9196
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9197. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9197
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9198. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9198
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9199. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9199
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9200. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 200K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9200
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9201. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9201
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9202. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9202
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9203. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9203
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9204. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9204
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9205. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9205
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9206. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9206
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9207. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9208. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9209. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9210. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9210
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9211. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9211
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9212. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9212
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9213. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9213
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9214. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9214
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9215. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9215
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9216. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9216
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)以下diff略　near110 蛍光板上で下向きg.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9217. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9217
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9218. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9218
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9219. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9219
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9220. Cu-2Si, G446, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9220
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G446. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9221. Al, RTNS-II, SS., [1987年7月23日.]

 アイテム
資料番号: L-9221
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS.

(備考)一部に光るもの多数、そこのみ　汚れ？.

日付: [1987年7月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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