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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9372. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9372
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9373. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9373
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9374. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9374
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9375. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9375
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9376. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9376
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9377. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9377
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9378. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9378
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9379. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9379
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9380. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9380
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9381. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9381
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9382. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9382
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9383. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9383
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9384. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9384
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9385. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9385
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9386. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9386
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9387. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9387
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9388. Ni, A953, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9388
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A953. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9389. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9389
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9390. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9390
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9391. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9391
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9392. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9392
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9393. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9393
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9394. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9394
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9395. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9395
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9396. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9396
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9397. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9397
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9398. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9398
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9399. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9399
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9400. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9400
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9401. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9401
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ同じ　size分布用.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9402. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9402
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ同じ　size分布用.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9403. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9403
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ同じ　size分布用.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9404. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9404
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ同じ　size分布用.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9405. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9405
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)厚さ同じ　size分布用.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9406. Ni-2Sn, R457, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9406
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)R457. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9407. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9407
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9408. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9408
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9409. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9409
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9410. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9410
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9411. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9411
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

(備考)以下　別grain　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9412. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9412
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9413. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9413
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9414. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9414
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9415. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9415
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9416. Ni-2Si, R181, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55cm., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9416
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)R181. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)　α.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9417. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, BF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9417
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9418. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9418
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9419. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9419
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9420. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9420
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9421. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 59K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9421
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K.

日付: [1987年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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