メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9625. Ni-2Ge, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-9625
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月24日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9633. Ag, R636, RTNS-II, RT(last), S, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9633
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R636. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)gnech.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9669. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9669
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s=0.

(備考)よごれている.

日付: [1987年7月26日.]