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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9675. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9675
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s>0 3.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9676. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9676
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s>0 3.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9677. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9677
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s>>0 4.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9678. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9678
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s>>0 4.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9683. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9683
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s>0 3.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9690. Ag, R614, RTNS-II, RT(last), S, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9690
範囲と内容

(試料)Ag. (EM/D3)D3. (試料番号)R614. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s>>0.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9714. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9714
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9715. Ni-2Si, R151, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9715
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)R151. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]