メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題
件名:ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9807. Ni, Ag937, RTNS-II, RT(last), W, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9807
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Ag937. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Quench.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9814. Ni, Ag937, RTNS-II, RT(last), W, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9814
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Ag937. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9815. Ni, Ag937, RTNS-II, RT(last), W, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9815
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)Ag937. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9821. Ni, A807, RTNS-II, RT(last), W, DF, 100K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9821
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-9822. Ni, A807, RTNS-II, RT(last), W, DF, 50K., [1987年7月26日.]

 アイテム
資料番号: L-9822
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A807. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT(last). (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s=0.

日付: [1987年7月26日.]