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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10148. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10148
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)うすい.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10149. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10149
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10150. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10150
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10151. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10151
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10152. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10152
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10153. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10153
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10154. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10154
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10155. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10155
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)やや厚い.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10156. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10156
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10157. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10157
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10158. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10158
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10159. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10159
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10160. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10160
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10161. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10161
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10162. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10162
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10163. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10163
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10164. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10164
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10165. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10165
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10166. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10166
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10167. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

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資料番号: L-10167
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10168. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10168
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10169. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10169
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10170. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10170
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10171. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10171
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10172. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10172
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10173. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10173
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10174. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10174
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10175. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10175
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10176. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10176
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10177. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10177
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10178. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

 アイテム
資料番号: L-10178
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10179. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10179
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10180. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10180
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10181. Cu-2Ni, G252, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987]10/19.

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資料番号: L-10181
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G252. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)diffは上と同じ.

日付: [1987]10/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10182. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10182
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10183. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10183
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10184. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10184
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10185. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10185
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10186. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10186
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10187. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10187
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10188. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10188
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10189. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10189
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10190. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, ED., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10190
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10191. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10191
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10192. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10192
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10193. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10193
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10194. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10194
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10195. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10195
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10196. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10196
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10197. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10197
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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