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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10198. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10198
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10199. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10199
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10200. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10200
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10201. Cu-2Ge, G132, RTNS-II, R.T.(last), S., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10201
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G132. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(last). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)すぐ近く.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10202. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10202
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10203. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10203
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10204. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10204
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10205. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10205
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10206. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10206
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10207. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10207
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10208. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10208
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10209. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10209
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10210. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10210
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10211. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10211
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10212. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10212
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10213. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10213
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10214. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10214
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10215. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10215
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10216. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10216
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10217. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10217
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10218. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10218
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10219. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10219
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10220. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10220
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10221. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10221
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10222. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10222
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10223. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10223
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10224. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10224
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10225. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10225
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10226. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10226
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10227. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10227
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10228. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10228
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10229. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 200K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10229
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10230. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10230
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10231. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10231
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10232. Cu-2Si, G448, RTNS-II, R.T(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

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資料番号: L-10232
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G448. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10233. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10233
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10234. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, BF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10234
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10235. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10235
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10236. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10236
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10237. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10237
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10238. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10238
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10239. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10239
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10240. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10240
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10241. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10241
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10242. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10242
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10243. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10243
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10244. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10244
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10245. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10245
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10246. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, DF, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10246
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-10247. Cu-0.3Ni, G232, RTNS-II, R.T.(Fin), S, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: L-10247
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G232. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)R.T.(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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