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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11210. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 270., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11210
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)270. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11211. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11211
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11212. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11212
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11213. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11213
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11214. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11214
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11215. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11215
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11216. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11216
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11217. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11217
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11218. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11218
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11219. Cu-2Ni, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11219
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11220. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11220
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)100面.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11221. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11221
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11222. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11222
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11223. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11223
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11224. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11224
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11225. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11225
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)傾き変えない.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11226. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11226
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11227. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11227
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)110を出すために12傾ける.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11228. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11228
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11229. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11229
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11230. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11230
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11231. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11231
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11232. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11232
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11233. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11233
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11234. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11234
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11235. Cu, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11235
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11236. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11236
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11237. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11237
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11238. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11238
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11239. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11239
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11240. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, D, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11240
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)D. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11241. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11241
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11242. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 270., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11242
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)270. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11243. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11243
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11244. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11244
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11245. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11245
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11246. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11246
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11247. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11247
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11248. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11248
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11249. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11249
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11250. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11250
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11251. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11251
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11252. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11252
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11253. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11253
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11254. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11254
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11255. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11255
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11256. Cu-2Si, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11256
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11257. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11257
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11258. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11258
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11259. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11259
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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