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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11310. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11310
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

(備考)題目にTW,2%Tens.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11311. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11311
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11312. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11312
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11313. Ni, RTNS-II, 300K, M, ED, 55., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11313
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11314. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11314
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11315. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11315
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11316. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11316
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11317. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11317
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11318. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 3.74., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11318
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.74.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11319. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11319
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11320. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11320
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11321. Ni, RTNS-II, 300K, M, ED, 55., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11321
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11322. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11322
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11323. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11323
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11324. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11324
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11325. Ni, RTNS-II, 300K, M, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11325
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11326. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 3.74., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11326
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.74.

(備考)題目にTW,2%Tens.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11327. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11327
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11328. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11328
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11329. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11329
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11330. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11330
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11331. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11331
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11332. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11332
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11333. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11333
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11334. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11334
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11335. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11335
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11336. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11336
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11337. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11337
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11338. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11338
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11339. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11339
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11340. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 10k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11340
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11341. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11341
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11342. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 54., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11342
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)54.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11343. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 7.34., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11343
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)7.34.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11344. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11344
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11345. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11345
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11346. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11346
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11347. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11347
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11348. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11348
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11349. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11349
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s中〜小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11350. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11350
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11351. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11351
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11352. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11352
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11353. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11353
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11354. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11354
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11355. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, BF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11355
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11356. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11356
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11357. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11357
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11358. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 100., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11358
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11359. Cu-2Ge, RTNS-II, 150℃(Fin), SS, DF, 200., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11359
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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