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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11410. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 20k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11410
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11411. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11411
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11412. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11412
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11413. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11413
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11414. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11414
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11415. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11415
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11416. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11416
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11417. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11417
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11418. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20k., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11418
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11419. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 20k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11419
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11420. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED, 55., [1987年11月17日.]

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資料番号: L-11420
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11421. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11421
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11422. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11422
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11423. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11423
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11424. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11424
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11425. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11425
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11426. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11426
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11427. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11427
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11428. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11428
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11429. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11429
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11430. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 50k., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11430
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50k.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11431. Ni, RTNS-II, 300K, SS, BF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11431
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11432. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11432
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11433. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11433
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11434. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 20K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11434
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11435. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11435
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11436. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11436
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11437. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11437
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11438. Ni, RTNS-II, 300K, SS, DF, 50K., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11438
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11439. Ni, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11439
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11440. Ni, RTNS-II, 300K, SS., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11440
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11441. Ni, RTNS-II, 300K, SS., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11441
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11442. Ni, RTNS-II, 300K, SS., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11442
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-11443. Ni, RTNS-II, 300K, SS., [1987年11月17日.]

 アイテム
資料番号: L-11443
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年11月17日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12882. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., 1988. 1. 25.

 アイテム
資料番号: L-12882
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12883. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12883
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)↓だんだんs小さく.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12884. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12884
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12885. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12885
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12886. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12886
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12887. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 50., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12887
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12888. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12888
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12889. Ni-2Ge, R331, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55., 1988. 1. 25.

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資料番号: L-12889
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)R331. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: 1988. 1. 25.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12890. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

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資料番号: L-12890
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12891. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12891
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12892. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12892
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12893. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12893
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12894. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, ED, 55., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12894
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12895. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12895
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12896. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12896
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-12897. Ni-2Cu, R031, RTNS-II, 350℃, SS, DF, 100., [1988年1月25日.]

 アイテム
資料番号: L-12897
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)R031. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1988年1月25日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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