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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13200. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13200
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13201. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13201
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13202. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13202
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～3g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13203. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13203
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13204. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13204
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13205. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13205
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大3.5g.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13206. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13206
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13207. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13207
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13208. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13208
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13209. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13209
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13210. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13210
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13211. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13211
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13212. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13212
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13213. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13213
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13214. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13214
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13215. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13215
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13216. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13216
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13217. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13217
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13218. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13218
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13219. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13219
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13220. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13220
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13221. Cu-2Sn, G596, RTNS-II, 350℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13221
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G596. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13222. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13222
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13223. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13223
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13224. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13224
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13225. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13225
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13226. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13226
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13227. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13227
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13228. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13228
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13229. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13229
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)2つはずす.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13230. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13230
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13231. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13231
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13232. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13232
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13233. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13233
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13234. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13234
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13235. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13235
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13236. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13236
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13237. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13237
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13238. Ni-0.3Sn, A910, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13238
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)A910. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13239. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13239
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13240. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K？., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13240
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K？.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13241. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13241
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)dislocation.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13242. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13242
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13243. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13243
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)matrix.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13244. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13244
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13245. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13245
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13246. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13246
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13247. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13247
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13248. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13248
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13249. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13249
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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